频谱仪对射频工程师来说应该不会陌生, 它和网络分析仪, 波形仪是三个最基本的测试仪器. 和网络分析仪不同, 频谱仪是用来分析对其未知的信号频率分量(频率和功率), 而网络分析仪是分析已知信号通过测试IC后的性能。

　　详细的使用方法这里就不细谈了, 大家可以查查网上资料或者操作手册就知. 假设大家已经知道一些常用的参数, 比如RBW, VBW, SPAN, Refence, ATT等这些常用参数了.这里谈谈一些特别的测试方法。

　　1)测试PLL的相位噪声

 　　测试相位噪声我们可以用PLL分析仪, 但是其实频谱仪也可以测试, 一般RBW调成300Hz(有些老式的SPA可能没有这么高的带宽分解度), 然后把span设成偏移频率的2倍, 比如测试10kHz频偏的相位噪声的话, SPAN设成20KHz, 由相位噪声的定义可知, 就是10kHz处噪声的功率密度和中心频率的功率密度的比值. 比如10kHz的功率和中心功率差65dBc, 即可推出PN=-65-10log(300)=-99dBc/Hz, 注意是每Hz的噪声功率密度的比值。

 　　2)测试波形功率的时间变化

 　　有时侯我们需要观测功率随时间的变化, 一般我们要用波形仪来测试, 其实某些频谱仪也有这些功能,把SPAN设成”0”, 相当于X轴就变成了时间轴, 然后在测试段的功率有变化的时候, 就能观测到功率变化量和过渡时间的情况了。

 　　3)测试信号的频率响应特性

 　　比如输出段要接个低通滤波器, 我们要比较LPF接之前和之后的频率响应有多少变化, 这时候可以把SG设成扫频, SPA设成”Maxhold”, SPA上捕捉到的信号就是最大功率(Carrier信号)的频响。

 　　在使用频谱仪的时候, 有时侯Probe是带有固定增益的, 测出的信号功率需要注意减掉这部分功率. 另外测试相位噪声时, 根据频谱仪的自身性能(SPA自身也是个接收系统, 也有LO产生相位噪声), 所以一般在10M以外的测试结果误差比较大, 10Khz以内的结果又可能精度比较差, 需要注意这一点。

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